2015年6月3日，FEI公司（www.fei.com）显微镜专家Maria Marosvoelgyi在中科院遗传所进行了相关显微镜（CLEM，Correlative Light and Electron Microscopy）技术讲座。该技术融合电子显微镜EM捕获超微结构细节的高分辨率与荧光显微镜FM的分子标记功能，让细胞生物学家有可能理解生命大分子在活细胞中的动态，得到其亚细胞结构的更多信息。 讲座来宾分别来自遗传所、发育中心、微生物所、动物所，就TIRF（全内反射荧光成像）应用、植物厚组织扫描电镜（SEM）和荧光研究、FIB方法应用（Iron Beam 切割）等问题做了深入沟通。